定制 X-射线检测系统

为了更好地为我们的用户服务, V.J. Electronix有一个新业务开发组，提供非标准的X-射线产品和工具, 以满足我们标准X-射线产品系列之外的挑战需求. 应用一般分为三个主要类型: 产品尺寸大于我们的标准; 高生产量的在线或批量操作; 生产检测和定制的失效分析系统. 自动缺陷识别增强, 减少了操作者的疲劳, 消除了所需的多次曝光, 自动缺陷识别消除了操作者的错误. 

市场服务包括: 医疗, 电子, 工业, 汽车及航天.

检测解决方案用于电子与机械组装, 来料检测, 封装, 失效分析.

X-射线应用:

非破坏性的测试
失效分析

多孔性和空洞探测与分析

裂缝探测和测量

剥层探测

密度鉴别

内在的定位信息

取证分析

可得的X-射线技术:

体积和切线计算机断层摄影法

数字探测器包括CMOS 与 线性二极管阵列(LDA)